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BT8200によるコールドプレート液冷システムの粒子清浄度管理

コールドプレート液冷システムを構成する部品の粒子清浄度と、BT8200の光遮断方式による定量管理を解説します。

BT8200によるコールドプレート液冷系の粒子測定

検査対象

原文では、コールドプレート、熱交換器、クイックコネクター・フランジ・ねじ継手、配管、最終組立後の循環ループを粒子清浄度の確認対象としています。コールドプレートのCPU/GPU用微細流路は通常数十分の一mmで、数十µmの粒子でも閉塞し得ると説明しています。

BT8200による定量

光遮断方式では、透明な検出流路を通る粒子が光を遮り、光電センサーが電気パルスとして検出します。パルス振幅を等価粒径へ換算し、各パルスを1粒子として計数します。BT8200は8チャネルで粒径・個数を同時監視し、測定粒径範囲は2~750μmです。

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